產(chǎn)品 · 簡介product details

: 簡介Description

自動化零部件、PCB基扳、電子芯片IC高低溫環(huán)境試驗

產(chǎn)品 · 參數(shù)Product parameter

低溫試驗箱技術(shù)參數(shù):

型號		GDW -50	GDW -100	GDW -150	GDW -225
工作室尺寸 mm		300× 400× 450	400× 450× 550	500× 600× 500	500× 600× 750
型號		GDW -408	GDW -800	GDW -010	GDW -015
工作室尺寸 mm		600× 800× 850	800× 1000× 1000	1000× 1000× 1000	1000× 1500× 1000
運行方式		定值運行程序運行
技術(shù) 參數(shù)	溫度上限	＋100℃/＋150℃ /+200℃
	溫度下限	0 ℃-10℃－ 20 ℃－30℃-40℃-50℃-60℃-70℃-80℃
	溫度波動度	± 0.5℃
	溫度均勻度	≤ 2.0℃
	溫度偏差	± 2℃
溫度控制器		進口溫度控制器
溫度傳感器		Pt100鉑電阻
制冷系統(tǒng)	制冷壓縮機 /方式	進口全封閉壓縮機組 /單級壓縮制冷二元復(fù)疊壓縮制冷
	冷卻方式	風(fēng)冷
安全保護措施		溫過載壓漏電短路等保護
材料	箱體 /保溫材料	外殼冷軋鋼板靜電噴塑內(nèi)膽 SUS304不銹鋼板 /細玻璃棉
標準配置		￠ 50測試孔一個試品擱板二套照明燈
產(chǎn)品標準		GB10589：低溫試驗箱技術(shù)條件 GB10592 :高低溫試驗箱技術(shù)條件
試驗方法		GB/T2423.1 GB/T2423.2 GB2423.22 GJB150.3 GJB150.4

產(chǎn)品 · 詳情Product introduction

高低溫試驗箱

適用于測試和確定電工電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫低溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能

高低溫試驗箱根據(jù)試驗方法與行業(yè)標準可分為“交變試驗”和“恒溫試驗”兩種試驗方法都是在高低溫試驗箱的基礎(chǔ)上進行升級拓展交變試驗箱是指可以一次性將需要做的高溫低溫時間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi)試驗箱會按照設(shè)定走程序高低溫試驗箱就是在做一個固定的溫度使試驗效果更接近自然氣候模擬出更惡劣的自然氣候從而使被測樣品的可靠性更高